SCHRIEFER, Thomas und HOFMANN, Maximilian, 2017. INTELEKT : integrierte Prüf- und Testumgebung für Leistungselektronik (In Te Lekt) : Teilvorhaben: Methodenentwicklung zur Zuverlässigkeitsabsicherung (LBF), Komponentenoptimierung auf Modulebene (IISB) : Abschlussbericht : Laufzeit des Vorhabens: 01.12.2013-30.11.2016, Berichtszeitraum: 01.12.2013-30.11.2016 = Integrated test environment for power electronics : subproject: Method development for reliability assurance (LBF), component optimization at module level (IISB). [Erlangen]: [Fraunhofer IISB].
Elsevier - Harvard (with titles)Schriefer, T., Hofmann, M., 2017. INTELEKT : integrierte Prüf- und Testumgebung für Leistungselektronik (In Te Lekt) : Teilvorhaben: Methodenentwicklung zur Zuverlässigkeitsabsicherung (LBF), Komponentenoptimierung auf Modulebene (IISB) : Abschlussbericht : Laufzeit des Vorhabens: 01.12.2013-30.11.2016, Berichtszeitraum: 01.12.2013-30.11.2016 = Integrated test environment for power electronics : subproject: Method development for reliability assurance (LBF), component optimization at module level (IISB). [Fraunhofer IISB], [Erlangen]. https://doi.org/10.2314/GBV:1003384943
American Psychological Association 7th editionSchriefer, T., & Hofmann, M. (ca. 2017). INTELEKT : integrierte Prüf- und Testumgebung für Leistungselektronik (In Te Lekt) : Teilvorhaben: Methodenentwicklung zur Zuverlässigkeitsabsicherung (LBF), Komponentenoptimierung auf Modulebene (IISB) : Abschlussbericht : Laufzeit des Vorhabens: 01.12.2013-30.11.2016, Berichtszeitraum: 01.12.2013-30.11.2016 = Integrated test environment for power electronics : subproject: Method development for reliability assurance (LBF), component optimization at module level (IISB) [Cd]. [Fraunhofer IISB]. https://doi.org/10.2314/GBV:1003384943
Springer - Basic (author-date)Schriefer T, Hofmann M (2017) INTELEKT : integrierte Prüf- und Testumgebung für Leistungselektronik (In Te Lekt) : Teilvorhaben: Methodenentwicklung zur Zuverlässigkeitsabsicherung (LBF), Komponentenoptimierung auf Modulebene (IISB) : Abschlussbericht : Laufzeit des Vorhabens: 01.12.2013-30.11.2016, Berichtszeitraum: 01.12.2013-30.11.2016 = Integrated test environment for power electronics : subproject: Method development for reliability assurance (LBF), component optimization at module level (IISB). [Fraunhofer IISB], [Erlangen]
Juristische Zitierweise (Stüber) (Deutsch)Schriefer, Thomas/ Hofmann, Maximilian, INTELEKT : integrierte Prüf- und Testumgebung für Leistungselektronik (In Te Lekt) : Teilvorhaben: Methodenentwicklung zur Zuverlässigkeitsabsicherung (LBF), Komponentenoptimierung auf Modulebene (IISB) : Abschlussbericht : Laufzeit des Vorhabens: 01.12.2013-30.11.2016, Berichtszeitraum: 01.12.2013-30.11.2016 = Integrated test environment for power electronics : subproject: Method development for reliability assurance (LBF), component optimization at module level (IISB), [Erlangen] 2017.